在工業(yè)精密檢測領(lǐng)域，測量精度與效率往往決定著產(chǎn)品質(zhì)量的高度。一款能夠在常溫狀態(tài)下快速精準測量各種材料紅外發(fā)射率的儀器，無疑是科研與生產(chǎn)過程中的得力助手。

日本JapanSensor TSS-5X-3紅外放射率測試儀就是這樣一款廣泛應(yīng)用于工業(yè)檢測的紅外放射率（發(fā)射率）測試儀，其以性能和便捷的操作，為半導(dǎo)體、航天、核電等領(lǐng)域的材料研究與質(zhì)量管控提供了有力支持。

01 精密測量，核心技術(shù)優(yōu)勢

TSS-5X-3采用紅外探測反射能量測量方法，能夠在室溫環(huán)境下快速、方便地測量各種材質(zhì)的放射率。

其測定波長范圍覆蓋2～22μm，寬廣的波長范圍使其能夠適應(yīng)多種材料的檢測需求。

儀器測量范圍覆蓋放射率0.00～1.00，測量精度高達±0.01以內(nèi)，這種高精度確保了能夠量化材料表面處理的細微變化。

02 簡易操作，提升檢測效率

TSS-5X-3設(shè)計注重用戶體驗，其LED數(shù)位顯示使測量結(jié)果一目了然，簡化了讀數(shù)過程。

儀器配備了固定測量距離（12mm）和測定面積（Φ15mm），通過檢測頭基座固定方式，減少了人為操作誤差。

標配放射率0.06和0.97基準片各一片，確保了校準的準確性和測量的可靠性。用戶無需加熱樣品，即可在室溫下輕松獲得準確數(shù)據(jù)。

03 應(yīng)用廣泛，賦能多行業(yè)創(chuàng)新

TSS-5X-3的應(yīng)用領(lǐng)域極為廣泛，適用于各種研究機關(guān)、生產(chǎn)線的場景。

在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)，該儀器用于半導(dǎo)體材質(zhì)的放射率研究測量，對芯片制造過程中的材料特性控制至關(guān)重要。

航天領(lǐng)域借助其進行材料表面處理之微小變化數(shù)值化，確保航天材料在環(huán)境下的熱性能穩(wěn)定性。

在鋼鐵產(chǎn)業(yè)，鋼鐵廠利用該設(shè)備進行材料檢測與研發(fā)，優(yōu)化生產(chǎn)工藝。

核電產(chǎn)業(yè)同樣依賴于TSS-5X-3的高精度測量，確保核電站關(guān)鍵材料的熱性能符合安全標準。

它還用于蓄熱、斷熱材料的放射率測量，為節(jié)能材料的研發(fā)提供數(shù)據(jù)支持。

04 全球適配，便攜設(shè)計

TSS-5X-3支持AC100~240V寬電壓輸入，適應(yīng)全球不同國家的電源標準。

其設(shè)計考慮了便攜性，主機重約2.8Kg，探測頭重0.6Kg，并配有專用的收納箱，方便移動攜帶和現(xiàn)場檢測。

05 技術(shù)規(guī)格一覽

*表：TSS-5X-3紅外放射率測試儀核心規(guī)格參數(shù)*

06 選擇TSS-5X-3，選擇精準與可靠

日本JapanSensor TSS-5X-3紅外放射率測試儀憑借其高精度測量能力、簡便的操作流程和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，已成為眾多工業(yè)檢測場合的理想選擇。

無論是用于材料研發(fā)、生產(chǎn)工藝優(yōu)化，還是產(chǎn)品質(zhì)量控制，TSS-5X-3都能提供可靠的數(shù)據(jù)支持，幫助用戶量化材料表面處理的微小變化，助力技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品升級。

TSS-5X-3以其高精度測量、常溫快速檢測和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，成為材料科學(xué)、半導(dǎo)體、航天核電等工業(yè)領(lǐng)域不可少的檢測工具。

其全球電源適配能力和便攜性設(shè)計，更使其成為跨國企業(yè)和移動檢測需求的理想選擇。選擇TSS-5X-3，意味著選擇精準、高效與可靠。